扫描电子显微镜（SEM）作为一种重要的高分辨率成像工具，在材料科学、生命科学、纳米技术等领域中发挥着重要的作用。在选择扫描电子显微镜的供应商时，不仅要考虑设备的性能和技术规格，还应关注厂商提供的售后服务质量。优质的服务可以确保设备的长期稳定运行，及时的技术支持和维修服务能够有效降低设备的故障率和维护成本，为科研工作和生产过程提供坚实的保障。
杭州科赋机电设备有限公司成立于2011年7月，公司位于浙江省杭州市滨江区（高新区）江南大道3778号A座3楼，公司业务覆盖浙江、江苏、上海、安徽、福建、江西等省市，主要经营系列三坐标测量机、非标检测试验设备、自动化检测集成软件及配套硬件，亦是专业从事检测仪器的设备集成商，公司凭借多年在材料力学、长度计量、化学分析、无损检测等领域的从业经验，为广大的客户提供了性能优良、精度高、性价优益的检测仪器设备，公司有专业团队，依托设备生产商的鼎力支持，为您提供推荐选型，帮助您的企业在选择优益的技术完善您产品的可靠性检测。
公司经营理念：
诚信是基础、品质是保证、产品是核心、服务是未来；
站在使用者的角度去思考，为您提供优质的检测设备；
站在经营者的角度去思考，为您企业的产品提供的检测解决方案；
科赋公司的发展与未来离不开广大新老用户的支持与信任，诚挚的希望与您同心协力实现合作、共赢！
杭州科赋JSM-IT200扫描电子显微镜
■主窗口ーZeromag观察ー
使用主窗口显示的样品架示意图和光学CCD图像*1，能寻找视野和定位分析位置。
■显示谱图和显示元素显示谱图和显示元素ーLiveAnalysis分析*2ー
通过显示谱图和显示元素，能确认正在观察中的视野的谱图及主要元素。
■数据管理图标数据管理图标ーSMILEVIEW
TM
Lab数据集中管理ー按下数据管理图标并显示数据管理窗口后，从SEM图像到分析，对全部数据能创建批量报告、
查看数据并重新分析数据。
JSM-IT200在完成样品交换的同时，开始观察需要的视野。
按照导航流程操作，也可以安全、方便、可靠地交换样品。
■样品交换导航
样品交换导航是从打开样品室到开始观察过程中进行导航的功能。
■Zeromag
只需扩大光学图像，就可以过渡到SEM图像
Zeromag功能将与样品台位置关联的样品架示意图、CCD图像（光学图像）和SEM图像实现了联动。可以直观地寻找分析区域，只需放大光学图像就可以过渡到SEM图像，因而能防止弄错观察目标和样品。
杭州科赋JSM-IT500扫描电子显微镜
性能
■利用Zeromag进行快速导航
■LiveAnalysis在图像观察过程中进行实时分析
■SMILEVIEWLAB能综合管理SEM图像&EDS分析数据
■安全、简便的样品交换导航
日常分析更迅速！更简便!
从安装样品到生成报告，实时分析软件使分析过程无缝连贯，作业速度更快，操作更加简便。
■Zeromag
从样品架示意图或者CCD图像上寻找视野和分析位置。
可以快速地寻找视野,简便地预约多个视野连续分析的位置。
■LiveAnalysis（实时分析）
观察过程中的EDS分析
在观察过程中可以随时实时显示分析区域内的特征X射线谱图、自动定性分析结果和主要构成元素。
还可以标记“Alert"到感兴趣的元素上。
■数据集中管理软件SMILEVIEWTMLab
通过数据管理图标或获取的数据一览，显示数据管理画面后，可以重新查看或再次分析数据，还可以一键生成报告。
利用用户日志也可以分别管理数据。由于数据相互联动，进行重构也很简单。
实现了光学图像和SEM图像的整合
■Zeromag
新功能寻找视野非常容易
顺利到达高倍率观察
新功能Zeromag将与样品台位置相关联的样品台示意图、CCD图像和SEM图像实现了联动，可以从光学CCD图像无缝过渡到SEM图像，大幅度地提高了工作效率。
Zeromag的特点
・从光学图像无缝过渡到SEM图像
・可以在样品上预先选择多个分析点
・可以轻松回溯到已测试过的区域以作进一步的研究
蒙太奇
利用Zeromag可以自动简便地进行大区域观察及分析
蒙太奇是识别大区域上的异物和进行断裂面分析等在大区域上获取详细信息的有效功能。
使用Zeromag功能,能很容易地选择大面积的蒙太奇视野，同时还有内置的“倾斜校正"、“设定重叠视野"及“设定自动聚焦点"功能。
杭州科赋蔡司Sigma300系列扫描电子显微镜
拥有高品质成像和分析功能的场发射扫描电镜
HDBSD探测器
高清晰度背散射电子探测器，在所有真空模式下，可对各类样品进行出色的低电压组份成像
智能并加速工作流程
Sigma300的4步工作流程可控制Sigma的所有功能。可快速获取图像，同时，节约在培训上的时间。.
导航您的样品，并为其设置的成像条件。
在样品上定义感兴趣区域，可自动实现在多个样品上采集图像。
获得可关联的可视化结果。
分析系统
在样品上定义感兴趣区域，可自动实现在多个样品上采集图像。
获得可关联的可视化结果。
扫描电镜与要素分析相结合：
Sigma300的EDS几何设计能够增强分析能力，尤其是对电子束敏感的样品。
可实现在之前一半的束流下得到分析数据，同时测试速度比之前快一倍。
8.5mm的工作距离和35度的出射角，可得到没有阴影区域的分析结果灵活的探测手段获取高分辨率的图像。
灵活的探测手段获取高分辨率的图像
使用探测器技术描绘您的所有样本。
使用新型的ETSE二次电子探测器及用于高真空状态下的InLense二次电子探测器可以获得高分辨率的形貌信息。
VPSE和C2D探测器在各种压力模式下都可以获取清晰的图像。
使用环形STEM探测器可以获取高分辨率的传送图像。
使用四通道BSD探测器和钇铝石榴石晶体探测器研究成分。